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淺談導(dǎo)致可控硅調(diào)光電源損壞的原因有哪些

發(fā)布日期:2019/6/4 9:55:21      瀏覽次數(shù):      文章來源:www.wuxihengdamotor.cn      作者:領(lǐng)冠電源

導(dǎo)讀:    如今LED照明燈具用到LED調(diào)光電源非常廣泛,而可控硅調(diào)光電源又是調(diào)光電源中用得最多的產(chǎn)品之一,今天領(lǐng)冠調(diào)光電源專家為你分享導(dǎo)致可控硅調(diào)光電源損壞的原因有哪些。



  如今LED照明燈具用到LED調(diào)光電源非常廣泛,而可控硅調(diào)光電源又是調(diào)光電源中用得最多的產(chǎn)品之一,今天領(lǐng)冠調(diào)光電源專家為你分享導(dǎo)致可控硅調(diào)光電源損壞的原因有哪些。


  一、電流損壞


  電流損壞的痕跡特征是芯片被燒成一個凹坑,且粗糙,其位置在遠離控制極上。


  二、邊緣損壞


  他發(fā)生在芯片外圓倒角處,有細小光潔小孔。用放大鏡可看到倒角面上有細細金屬物劃痕。這是制造廠家安裝不慎所造成的。它導(dǎo)致電壓擊穿。


  三、電壓擊穿


  可控硅因不能承受電壓而損壞,其芯片中有一個光潔的小孔,有時需用擴大鏡才能看見。其原因可能是管子本身耐壓下降或被電路斷開時產(chǎn)生的高電壓擊穿。


  四、電流上升率損壞


  其痕跡與電流損壞相同,而其位置在控制極附近或就在控制極上。


  導(dǎo)致可控硅調(diào)光電源損壞的原因大致就是以上四種,所以大家在使用可控硅調(diào)光電源過程中,注意以上四點,就會大大降低出現(xiàn)損壞的概率。

領(lǐng)冠UL認證可控硅調(diào)光電源產(chǎn)品

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